菲希爾xdlm-237測厚儀

• 更新時間：2022-07-18
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菲希爾xdlm-237測厚儀
XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。

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菲希爾xdlm-237測厚儀

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FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 x射線熒光鍍層測厚和材料分析儀：

FISCHERSCOPE X-RAY XDL XDLM系列與XULXUUM系列密切相關(guān):兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標(biāo)準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應(yīng)用創(chuàng)造良好的激勵條件。

電鍍液成分分析：Cu, Ni, Au (g/l)

菲希爾xdlm-237測厚儀主要特征：

     。帶玻璃窗口和鎢靶的X射線管或帶鈹窗和鎢靶的微聚焦X射線管。
     。*高工作條件:50KV,50W
     。X射線探測器采用比例接收器
     。準直器:固定或4個自動切換，0.05 x0.05 mm到00.3 mm
     。基本濾片:固定或3個自動切換
     。測量距離可在0-80 mm范圍內(nèi)調(diào)整
     。固定樣品支撐臺，手動XY工作臺
     。攝像頭用來查看基本射線軸向方向的測量位置。
     。刻度線經(jīng)過校準，顯示實際測量點大小。
     。設(shè)計獲得許可， 防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

     。大批量電鍍件測量
     。防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻
     。電鍍行業(yè)樓液分析
     。線路板行業(yè)如薄金，鉑和鎳鍍層的策略
     。測量接插件和觸點的鍍層
     。電子和半導(dǎo)體行業(yè)的功能性鍍層測量
     。黃金，珠寶和手表行業(yè)

PCB測量: Au/Ni/Cu/PCB

應(yīng)用實例：

XDLM測量系統(tǒng)經(jīng)常用來測量接插件和觸點的各種底材上的Au/Ni, Au/PdNi/Ni, Ag/Ni或Sn/Ni鍍層的厚度。通常功能區(qū)都是很小的結(jié)構(gòu)如良好或突起，測量這些區(qū)域必須使用很小的準直器或適合樣品形狀的準直器。例如測量橢圓形樣品時，就要使用開槽的準直器以獲得*大的信號強度。