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產(chǎn)品中心
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
FISCHERSCOPE X-RAY XUL XYm菲希爾熒光鍍層分析儀簡介
一一一耐用且價格便宜的X射線熒光測量儀,用于無損涂層厚度測量和材料分析。
FISCHERSCOPE®-X-RAY XUL是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀,它結(jié)構(gòu)緊湊,小巧耐用。它們十分適用于無損測量鍍層厚度和成分分析。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率,這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer基本參數(shù)法,無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品,都能在沒有標準片的情況下進行準確分析和測量。可測量的元素范圍從氯(17)到鈾(92)。XUL型X射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性,這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。本款儀器特別適用于客戶進行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
一款適合電鍍廠測量鍍層厚度的便宜耐用的儀器。它配備了一個固定的準直器和濾片,射線管出射點稍大,非常適合測量點在1mm以上的應(yīng)用。低能射線元件激發(fā)效率較低;但是對于標準的測量典型電鍍層厚度的應(yīng)用,如Cr、Ni、Cu,沒有任何問題。
典型的應(yīng)用領(lǐng)域有:
在小部件如螺釘、螺栓和螺帽上的測量
在連接器和電氣元件上的測量
電鍍液的溶液成分分析
測量PCB板上:Au/Ni/Cu/PCB | 黃金珠寶檢測 |
連接器:Au/Ni/CuSn6 | 防腐保護: Zn/Fe |
菲希爾熒光鍍層分析儀x-ray設(shè)計理念:
FISCHERSCOPE X-RAY XUL設(shè)計為界面友好、結(jié)構(gòu)緊湊的臺式測量儀器系列。根據(jù)使用用途,有以下兩種不同版本型號,分別對應(yīng)不同的樣品平臺:
XUL: 固定平面平臺
XUL XYm: 手動X/Y平臺
一高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,可以定位測量位置。
一盡管儀器本身結(jié)構(gòu)緊湊,但是由于XUL光譜儀配備了寬敞的測量室,從而可以測量更大體積的樣品。
一外罩底部留下了空隙,可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品,如大面積的印制線路板等。
一通過強大而界面友好的WinFTM®軟件,可以在電腦上便捷地完成整個測量過程,包括測量結(jié)果的數(shù)據(jù)分析和所有相關(guān)信息的顯示等。
一XUL型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器,型式許可符合德國"Deutsche R?ntgenverordnung-R?V"法令要求
樣品臺 | XUL | XUL XYm |
設(shè)計 | 固定樣品平臺 | 手動XY平臺 |
X/Y方向*大可移動范圍 | - | 50 x 50 mm |
樣品放置可用區(qū)域 | 250 x 280mm | |
樣品*大重量 | 2kg | |
樣品*高高度 | 240mm |